Granulomètre LS 13 320 XR

De grosses améliorations qui vous aident à repérer les petites différences

Le LS13320 XR offre les meilleures données de distribution en taille des particules grâce à la technologie de pointe PIDS qui permet des mesures de haute résolution et une gamme de mesure étendue. Comme le LS13320, l’analyseur XR fournit des résultats rapides et précis et vous aide à rationaliser vos processus de travail pour optimiser leur efficacité. Certaines grosses améliorations vous aident à repérer, d’une manière fiable, les petites différences qui ont un impact énorme sur vos données d’analyse de particules:

  • Gamme de mesure directe de 10 nm à 3.000 µm
  • Souligne automatiquement les résultats des tests pour un contrôle de qualité plus rapide
  • Logiciel amélioré qui simplifie la création de méthodes pour les mesures standardisées

Caractéristiques

Repérer les petites différences

  • Gamme de mesure étendue: 10 nm à 3.000µm
  • Diffraction Laser plus technologie PIDS avancée permettent des mesures de haute résolution et un reporting des données réelles aussi basses que 10nm
  • Procure une détection fiable et précise de multiples tailles de particules dans un échantillon unique

Logiciel d’utilisation simple

  • Des méthodes préconfigurées fournissent des résultats en 3 clicks ou moins.
  • Simplifie les opérations d’analyse à la fois pour les experts et les novices
  • Historique de données en 1 click
  • Test de contrôle automatique
  • Des diagnostiques intuitifs vous tiennent informés pendant l’échantillonnage
  • Messages configurés sur l’écran pour les applications QC
  • Conçu pour une grande capacité de traitement des échantillons pour une productivité accrue

Conformité 21 CFR Part 11

  • Systéme de sécurité personnalisable pour satisfaire des besoins variés
  • Choisissez 4 niveaux de sécurité
  • Une configuration de haute sécurité permet la conformité à la norme 21 CFR Part 11 (réglementation FDA pour les signatures et enregistrements électroniques)

Technologie PIDS pour la détection directe des particules de 10 nm

  • 3 longueurs d’ondes (475, 613 et 900 nm) irradient l’échantillon avec une lumière polarisée horizontale et verticale
  • L’analyseur mesure la lumière diffusée par l’échantillon sur une large étendue d’angles.
  • Les différences entre la lumière émise horizontalement et verticalement, pour chaque longueur d’ondes, produisent les données de distribution en taille de particules, de haute résolution.

Choose a Model

Tech Docs Part Number Product Name Weight Height Power Requirements List Price Buy
8.20|kg / 18.07790549916|lb
46.40|cm / 18.2677165354331|in

-

23.50|kg / 51.8086316134462|lb
49.53|cm / 19.5|in
6A at 90-125 VAC, 3 A at 220-240 VAC

-

8.20|kg / 18.07790549916|lb
46.40|cm / 18.2677165354331|in

-

Product Specifications

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm | 3,500 µm|
Reporting PDF, Excel
Item Specifications Referenced B98100

Documentation

  • Filter by:

Technical Documents