Granulomètre à diffraction laser LS 13 320 XR

Pour de grandes améliorations qui vous aident à repérer les petites différences.

Le LS 13 320 XR offre les meilleures données de distribution granulométrique de sa catégorie grâce à la technologie avancée PIDS*, qui permet des mesures haute résolution et une gamme étendue dynamique. Comme le LS 13 320, l'analyseur de taille de particules XR fournit des résultats rapides et précis, et vous aide à rationaliser les flux de travail pour optimiser l'efficacité. Certaines améliorations importantes vous aident à repérer de manière fiable les petites différences qui peuvent avoir un impact énorme sur vos données d'analyse de particules.

  • Gamme de mesure directe de 10 nm à 3 500 µm
  • Mise en évidence automatique des résultats positifs/négatifs pour un contrôle de qualité plus rapide
  • Logiciel amélioré qui simplifie la création de méthodes pour des mesures standardisées
  • Nouvelles normes de contrôle pour vérifier de manière adéquate les performances des instruments et des modules.

Caractéristiques

Repérer les petites différences

  • Gamme de mesure étendue: 10 nm à 3.000µm
  • Diffraction Laser plus technologie PIDS avancée permettent des mesures de haute résolution et un reporting des données réelles aussi basses que 10nm
  • Procure une détection fiable et précise de multiples tailles de particules dans un échantillon unique

Logiciel d’utilisation simple

  • Des méthodes préconfigurées fournissent des résultats en 3 clicks ou moins.
  • Simplifie les opérations d’analyse à la fois pour les experts et les novices
  • Historique de données en 1 click
  • Test de contrôle automatique
  • Des diagnostiques intuitifs vous tiennent informés pendant l’échantillonnage
  • Messages configurés sur l’écran pour les applications QC
  • Conçu pour une grande capacité de traitement des échantillons pour une productivité accrue

Conformité 21 CFR Part 11

  • Systéme de sécurité personnalisable pour satisfaire des besoins variés
  • Choisissez 4 niveaux de sécurité
  • Une configuration de haute sécurité permet la conformité à la norme 21 CFR Part 11 (réglementation FDA pour les signatures et enregistrements électroniques)

Technologie PIDS pour la détection directe des particules de 10 nm

  • 3 longueurs d’ondes (475, 613 et 900 nm) irradient l’échantillon avec une lumière polarisée horizontale et verticale
  • L’analyseur mesure la lumière diffusée par l’échantillon sur une large étendue d’angles.
  • Les différences entre la lumière émise horizontalement et verticalement, pour chaque longueur d’ondes, produisent les données de distribution en taille de particules, de haute résolution.

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Documents techniques

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